ZERNIKE动态移相测量系统主要是通过在电压作用下产生一定的伸缩变形，带动被测件产生微小的平移，改变光程形成干涉，然后通过ZERNIKE干涉条纹分析软件还原被测件的波面信息。

特点：                                                                应用：

高精度                                                                高标准的表面形貌

高分辨率                                                             光学薄膜

高灵敏度                                                             光学波导

高稳定性                                                             光学器件测量等

重复性好

 同时泽尼克定制移相系统适配性强，可兼容国内外不同厂家不同口径型号的干涉仪，可显著提高产品精度和生产效率。